Pressemeldung von ZEISS vom 6. Februar 2014: Mit der Neuausrichtung der Elektronenmikroskopie-Sparte auf die Scanning Electron Microscopy (SEM)-Technologie scheidet ZEISS aus dem Projekt SALVE aus. Das Projekt SALVE (Sub-Angström Low-Voltage Electron Microscopy) ist ein Großforschungsprojekt, das sich dem Ziel widmet, die Niederspannungs-Transmissionselektronen- mikroskopie zur Untersuchung von strahlempfindlichen Proben mit atomarer Höchstauflösung zu entwickeln. Projektpartner der Universität Ulm sind ZEISS und die Firma CEOS.
Das SALVE-Projekt wurde bisher in erheblichem Umfang von der Deutschen Forschungsgemeinschaft und dem Ministerium für Wissenschaft und Kunst des Landes Baden-Württemberg gefördert. In den vergangenen fünf Jahren des Forschungsprojektes konnten herausragende Ergebnisse erzielt werden. Zahlreiche Publikationen in Fachjournalen und ein Eintrag ins 'Guinness Buch der Rekorde' für die Entdeckung der dünnsten Glasschicht belegen dies. Durch den Einsatz von neuartigen Bildfehlerkorrektoren und Monochromatoren wurde erstmals bei niedrigen Strahlenergien (20kV) atomare Auflösung erreicht. Bislang war eine Untersuchung dieser dünnen strahlempfindlichen Stoffe mit derart guter Auflösung nicht möglich. Das SALVE-Projekt eröffnet damit neue Möglichkeiten für die Materialwissenschaften, gerade wenn es um niedrigdimensionale, strahlempfindliche Materialien wie beispielsweise Graphen, bestehend aus einer Monolage von Kohlenstoffatomen, oder um Moleküle auf einer Graphenschicht geht.
Darüber hinaus wurden mit dem Projekt neue Einsatzmöglichkeiten für spektroskopische Untersuchungsansätze weiterentwickelt. Von Silizium und Germanium konnten erstmals im Elektronenmikroskop mit Hilfe der Low-Loss-Spektroskopie die exakten dielektrischen (optischen) Eigenschaften und die Feinstruktur des Valenzbandes bestimmt werden. Mit der energie- und winkelaufgelösten Spektroskopie wurde eine neue Methode entwickelt, mit der die kollektiven Anregungszustände zum Beispiel von frei tragenden, monolagigen Graphenschichten gleichzeitig impuls- und energieaufgelöst gemessen werden können.
Alle wissenschaftlichen Ergebnisse und Technologienentwicklungen aus dem Forschungsprojekt, die von ZEISS erarbeitet wurden, stehen ab sofort den übrigen SALVE-Partnern zur Verfügung. Mit dem Ausscheiden aus dem Projekt gibt ZEISS den Weg für den Einstieg neuer Technologiepartner frei und ermöglicht damit, dass die noch ausstehenden Technologieentwicklungen im Rahmen des SALVE Projektes langfristig weiter betrieben werden können.
Verantwortlich:
Carl Zeiss Microscopy, Dr. Jochen Tham
in Zusammenarbeit mit
CEOS GmbH, Prof. Dr. Max Haider
Universität Ulm, Prof. Dr. Ute Kaiser