Integrierte Ausleseelektronik für kombinierte Hochgeschwindigkeits-Raster-Ionenstrom-Mikroskopie und hochauflösende Patch-Clamp Experimente

Die Möglichkeit zur Bildgebung im Nichtkontaktmodus mit subzellulären Auflösungen machen die Rasterionenstrommi-kroskopie (engl. „scaning ion coductance microscopy“ (SICM)) zu einem vielversprechenden Verfahren für Untersuchungen im Bereich der Molekularbiologie. Kürzlich eingeführte Neuerungen im Bereich der Probenköpfe in Kombination mit neuen Bildgebungsmodi haben dabei die Auflösung, die Stabilität sowie Bildgebungszeit in SICM Experimenten derart verbessert, dass SICM als Untersuchungsmethode für ein immer breiteres Anwendungsspektrum interessant wird.

Ziel des beantragten Forschungsvorhabens ist daher die Entwicklung eines auf die speziellen Erfordernisse von SICM-Experimenten optimierten, ASIC basierten Mikrosystems zum breitbandigen Auslesen der dort als Regelgröße genutzten Ionenströme.